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4月28日,杭州广立微电子股份有限公司(简称“广立微”)在上海成功举办了“Semitronix DATAEXP User Forum暨新品发布会”。会上,广立微重磅发布了DATAEXP-YMS、DATAEXP-DMS及DATAEXP-General等多款产品,实现了公司大数据平台DATAEXP的全线升级。发布会现场,开发团队的人员还详细展示了DATAEXP全新升级后的功能亮点和适配场景,为在场的业内人士带来了一场精彩的技术分享。

成品率管理系统(YMS, Yield Management System)属于半导体工业软件中重要的一部分,被IDM、Fab、Fabless和OEM企业所广泛使用,市场需求广泛。在半导体晶圆制造过程中,工艺缺陷的检测分析对良率(Yield)有着重大影响,目前不少晶圆制造企业所使用的相关产品存在着兼容性低、难以扩展和定制化、大数据分析能力缺失以及服务响应慢等诸多问题。

针对半导体数据分析的市场痛点,广立微经过多年的潜心研究,开发出包括DATAEXP-General、YMS、DMS、FDC等多款大数据分析工具,这些产品具备强大的数据底座及前沿的机器学习和算法能力,投入市场后获得了良好的用户反馈,打破了海外厂商的垄断,在技术上实现了国际领先。

升级后的新版DATAEXP -General软件UI交互进行了全新设计, 结合运行速度的提升, 为用户提供了更加优越的使用体验。 在优化功能的同时, 新版DATAEXP-General 新增了多种数据可视化方法以及统计分析模块, 为用户提供了更加强大并且灵活的数据分析平台。 与此同时, DATAEXP-General重磅发布了BS架构的云端版本, 在客户端版本的基础上, 额外提供了数字分析资产集中管理能力, 数字报告自动生成能力以及YMS-Lite 数据分析平台低代码搭建能力。

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